FORMULA®HF3平台上的测试仪用于广泛的高速超大规模集成电路功能和参数控制：微控制器、静态和动态存储器、调制校准单元上的大积分电路、ASIC、可编程逻辑集成电路等，具有多达512个信号输出和高达200 兆赫的工作频率。测试仪用于超大规模集成电路生命周期各个阶段的测试和质量控制，包括：•测试和测试新开发的微电路类型，•系列产品的生产和验收测试：鉴定、周期、挑出废品、交接测试•认证测试，•输入控制 主要技术特点和功能：- 每个频道的功能控制频率 - 高达200 兆赫，- 双向通道数 - 最多512个，- 总时间误差（OTA） - 700 ps，- 向量/错误的记忆量 - 64 M.