Die Tester auf der Plattform FORMULA® HF3 dienen zur Funktions- und Parameterkontrolle von schnellen VLSIs (höchste Integrationsstufe): Mikrocontrollern, statischen und dynamischen Speichern (SE), Master-Slice-VLSIs, ASICs, anwenderprogrammierbaren Logikschaltkreisen u.a. mit bis zu 512 Signalausgängen und mit der Frequenz bis 200 MHz.Die Tester werden zur Prüfung und Qualitätskontrolle bei allen Stufen des Lebenszyklus von VLSIs eingesetzt, darunter: • Prüfungen und Untersuchungen der neuen Typen von Chips,• Produktions- und Abnahmeprüfungen der Serienproduktion: Qualifikations-, Regel-, Gut-Ausschuss-, Abnahmeprüfungen,• Zertifizierungsprüfungen,• Eingangskontrolle.Hauptkennwerte und Funktionalität:- Frequenz der Funktionskontrolle pro Kanal – bis 200 MHz,- Anzahl der bidirektionalen Kanäle - bis 512,- Gesamte zeitfehler (OTA) - 700 ps,- Vektor-/Fehlerspeicherkapazität - 64 M.