Os testadores da plataforma FORMULA® HF3 são projetados para controle funcional e paramétrico de alta velocidade de VLSI: microcontroladores, memória estática e dinâmica (VU), VLSI em ULA, ASICs, FPGA, etc. com até 512 saídas de sinal e até 200 MHz de freqüência de operação.Os testadores são usados ​​para testes e controle de qualidade em todos os estágios do ciclo de vida do VLSI, incluindo: • Testes e ensaios de novos tipos de microcircuitos,• Teste de produção e aceitação de produtos semicondutores seriais: típicos, de qualificação, periódicos, rejeitados, de aceitação• Testes de certificação,• Controle de entrada.Principais características técnicas e funcionalidade:- Freqüência de controle funcional por canal - até 200 MHz,- O número de canais bidirecionais - até 512,- Erro total de tempo (OTA) - 700 ps,- A quantidade de memória de vetores / erros - 64 M.