Les testeurs à la base de la plateforme FORMULA® HF3 sont conçus pour le contrôle fonctionnel et paramétrique des circuits de très grande échelle d'intégration de haute vitesse d'une large gamme: microcontrôleurs, mémoire statique et dynamique (unité de mémoire), circuits de très grande échelle d'intégration sur des cristaux de matrice de base, ASICs, circuits intégré à logique programmable, etc. avec un nombre de sorties de signal allant jusqu'à 512 et une fréquence de fonctionnement allant jusqu'à 200 MHzLe domaine d'application des testeurs est les tests et le contrôle de la qualité à toutes les étapes du cycle de vie des circuits de très grande échelle d'intégration, y compris : • Essais et études de types de microcircuits nouvellement développés,• Essais de production et d'acceptation de produits en série : de qualification, périodiques, de rejet, d'acceptation,• Essais de certification,• Inspection d'entrée.Caractéristiques techniques principales et fonctionnalités :- La fréquence de contrôle fonctionnel par canal est jusqu’à 200 MHz,- Le nombre de canaux bidirectionnels - jusqu'à 512,- Erreur de temps total (OTA) - 700 ps,- Capacité mémoire des vecteurs/erreurs - 64 M.