FORMULA®HFUltra测试仪是一种通用测试和测量系统，用于超高频超大规模集成电路的功能和参数控制。测试仪的应用范围是超大规模集成电路生命周期各个阶段的测试和质量控制，包括：- 新开发的超大规模集成电路类型的测试和研究- 系列产品的生产和验收测试：鉴定、周期、挑出废品、交接测试- 认证测试- 输入控制 测试仪的关键技术特征由以下值确定：- 通用双向通道的数量 - 最多1024个- 功能控制频率高达550 兆赫- 精密振荡器的参考频率为1200 兆赫- 矢量/错误存储器 - 最多128 M / 128 M向量- 模拟测量单元 - 1200 MPS / 24比特总时间误差（OTA – Overall Timing Accuracy）不超过±250 ps。