Destina-se para os parâmetros de controle de saída de componentes microeletrônicos e sistemas (no corpo e na placa de e semicondutores) na produção e em condições de laboratório, os parâmetros de controle de entrada dos sistemas e componentes microelectrónicos nas empresas consumidores de base de componentes eletrônicos, pesquisa científica, monitoramento de parâmetros de limite de componentes e sistemas de microeletrônica testes de certificação.