Está diseñado para el monitoreo de parámetros de salida de componentes y sistemas microelectrónicos (en casco y en placa semiconductora) en la producción y en condiciones de laboratorio; para monitoreo de parámetros de entrada de componentes y sistemas microelectrónicos en las empresas consumidoras de componentes electrónicos; para investigación y desarrollo, para el control de parámetros límite de componentes y sistemas microelectrónicos y para pruebas de certificación.