Er ist für Leistungsüberwachung von Parametern mikroelektronischer Komponenten und Systeme (im Gehäuse und auf einer Halbleiterplatte) in Produktions- und Laborbedingungen, Eingangsüberwachung von Parametern mikroelektronischer Komponenten und Systeme im Unternehmen-Abnehmer elektronischer Bauteile, Forschung- und Entwicklungsarbeiten, Kontrolle der Grenzparameter mikroelektronischer Komponenten und Systeme, Zertifizierungstests geeignet.