Il est conçu pour le contrôle de sortie des paramètres de composants et systèmes microélectroniques (dans le corpus et sur une plaque semi-conductrice) en production et dans le laboratoire, contrôle de saisie des paramètres de composants et systèmes microélectroniques dans les entreprises-consommateurs de composants électroniques, de la recherche et développement, du contrôle de paramètres limites de composants et systèmes microélectroniques, des tests de certification.