Вступить в каталог
КОД ПРОДУКЦИИ ПО ТН ВЭД ЕАЭС
901210
Микроскопы, кроме оптических микроскопов; аппараты дифракционные
СОЛВЕР Пайп II
Описание
Аппаратно-программный комплекс  на основе атомно-силовой микроскопии для неразрушающей диагностики конструкционных материалов. Являясь высокоточным и надежным методом диагностики, атомно-силовая микроскопия (АСМ) позволяет осуществлять упреждающий контроль состояния материалов промышленных  объектов и действующего оборудования. АСМ обладает существенными преимуществами по сравнению с методами диагностики на основе электронной и оптической микроскопий. АСМ изображения структур металлов и сплавов на разных уровнях увеличения дают более полную информацию о поверхности по сравнению с данными, получаемыми с помощью оптических микроскопов. Это в свою очередь позволяет расширить совокупность определяемых количественных характеристик исследуемых структур. АСМ изображения представляют собой цифровую матрицу и легко поддаются обработке методами математической статистики и теории распознавания образов.