Автоматизированная система для АСМ-Раман, СБОМ и TERS исследований. Обеспечивает одновременное получение АСМ и рамановских изображений, информацию о физических свойствах (АСМ) и химическом составе (Раман) образца. Благодаря мотодике зондово усиленного рамановского рассеяния (Tip Enhanced Raman Scattering, TERS) ИНТЕГРА Спектра II позволяет проводить спектроскопию/микроскопию с нанометровым пространственным разрешением. Специально изготовленные АСМ зонды (наноантенны) могут быть использованы в TERS для локализации и усиления излучения в нанометровой области. Это даёт возможность получения оптического и спектроскопического изображений с разрешением на порядки лучше дифракционного предела (до ~ 10 нм). Другим подходом является сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ), обеспечивающая за счет апертурных зондов, пространственное разрешение ~ 100 нм. Применима в самых разных исследованиях – наноструктур, полупроводников, полимеров, биологии, оптических устройств и пр.