Вступить в каталог
КОД ПРОДУКЦИИ ПО ТН ВЭД ЕАЭС
901210
Микроскопы, кроме оптических микроскопов; аппараты дифракционные
ИНТЕГРА Нано ИК
Описание
Интегрированная АСМ / рассеивающий СБОМ система ИК-спектроскопии нанометрового пространственного разрешения. АСМ зонд располагается в фокусе оптической системы, направляющей излучение ИК лазера на образец и собирающей оптический отклик. Собранное излучение направляется в интерферометр Майкельсона для оптического анализа. Система ИНТЕГРА Нано ИК позволяет детектировать амплитуду и фазу ближнепольного сигнала. Пространственное разрешение получаемых контрастов отражения и поглощения составляет примерно 10 нм и определяется только размерами острия зонда. Применения: Полупроводниковые наноструктуры; Полимеры; Нанокомпозитные материалы; Сверхтонкие пленки (монослои) и пр.